產品規格

1在本公司規定的潤量條件下使用基準相位因子進行評價的性能

2相位屋值是10nm 以上時的重復精度

3希望變更中心波長時，請另行語詢

4每臺相機的測屋寬匿

5希望應對更高的搬送速度時，請另行咨詢

6WPA-View 是Photonic-Lattice產品的名稱

雙折射不均勻檢出示例

Photron離線雙折射分布檢測系統可用于防止不良品流出并迅速探知缺陷的雙折射相位差分布檢測系統KAMAKIRI

薄膜檢測

Photron離線雙折射分布檢測系統應用于透明光學薄膜(PVA,COC,COP,TAC,PC,PET,PMMA,PI)   的光學歪曲和配向的不規則評估 ·檢測

玻璃檢測 ·版狀物檢測

可用于MTF 或透射率等光學性能低下的評估，以及造成裂紋的殘留應力分布的可視化等。另外，近 年來在車載顯示屏用高品質玻璃的雙折射分布評估的應用上，KAMAKIRI的面測量有顯著進步

透明樹脂成型品檢測

在透明樹脂制品的內部應力、模具內的樹脂流動、微小缺陷可視化以及成形條件的優良化上都有廣泛應用。

KAMAKIRI提供的附加價值

通過高速面掃描將雙折射測量帶入新次元

從「可視化」到「檢測的自動化」

防止不良品流出&實現快速的缺陷檢測

伴隨著顯示器的高清晰化和高對比度化，以及用戶的畫質提高，在薄膜面內也 需要更高的相位差和主軸方位的均勻性。

此外，從環保的觀點出發，廢棄品的標準設置變得十分重要。

本公司偏振光高速相機及掃描系統組合而成的KAMAKIRI, 可以在極短時 間內對雙折射分布進行高度檢測和數據記錄。

豐富的引進實績

2014年末開始銷售后，日本、韓國、中國的光學薄膜制造商和玻璃、透鏡成型制造商已經采用了超過50臺  KAMAKIRI 系列產品。特別是光學薄膜制造商的生產線多種多樣，各自的要求不同。本公司在聽取客戶的生 產線狀況的同時，提出了優良的系統結構。迄今為止，制作及引進實績包含了從200mm 寬的小型系統到超過 5m 寬的大型系統。

導入流程

很多客戶希望在初次引進之前預先確認系統的檢查效果。

對于初次進行樣品評估的客戶將予以免費。(相關樣本條件和演示網頁的信息，請參閱第14頁)

大部分的客戶都是先引進臺式KAMAKIRI,  在確認過面測量的效果之后制定專有的OK/NG 評判基準并優化判定算法之后再引進 在線型的KAMAKIRI 系統。由于臺式KAMAKIRI 可以改造為在線型KAMAKIRI,  對于消除運用上的疑難問題，并以少量的投入建 立檢查體制非常有利。

定期檢查 · 定期維護

建立了服務體制，使客戶的裝置能夠經常舒適地運用，并且能夠應對突發性的修理等。根據客戶的機種型號 和使用計劃，定期進行檢查并提供需更換的零部件。引進時請參考《定期檢查維護服務合同》。

KAMAKIRI產 品 一 覽

我們提供用于在線品質 ·生產管理的在線型系列，以及適用于抽樣檢查及研發的臺式系列。

實時檢測畫面顯示

通過實時顯示光學變形、寬度方向及輸送方向的趨勢 圖，能夠在生產現場及時了解所需信息。

數據處理流程以及應用示意圖

適用于客戶生產線的客制化

提供適用于客戶生產線的系統運用及結構。

根據需要檢測的不均程度以及產量決定空間分辨率以及存儲容量。 另外，根據生產線和工廠空間，設計制作框體。

如果商談內容含有機密信息，可以簽署保密協議(NDA),    請隨時與我們聯系。

在線的部分檢查及試制生產線的評估

KAMAKIRI 雙折射測量模塊

可安裝在其他設備上，構成專用小型檢查系統

KAMAKIRI 系統的測量保證及檢查體制

本公司設有相位差、主軸方位的校正系統，利用該系統校正過的標準相位子可以對客戶 的設備進行校準維護。

此外，我們也會對測量性能進行定期檢查。

本公司也提供備選的簡易標準相位子，以供客戶進行日常檢測。

KAMAKIRIX-Stage

WPA-KAMAKIRI

KAMAKIRI MEM-AS

Photron 的光學產品介紹

除了適用于薄膜、玻璃、樹脂成型品評估的KAMAKIRI 系列以外，我們 還提供面向生產品質管理和生產技術評價的紅外線相機系統。

(此類產品只在日本國內銷售)